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2012年3月26日 (月)

半導体素子の導通チェックの方法

<読んでほしい人:電気系の高専生と大学生>
 半導体素子は試作機の中で最も壊れやすい部品だが、破損の有無は外観だけでは分からないのが普通である。そこで、半導体素子の破損の有無を見極めることが重要となるが、テスターで導通チェックを実施することにより容易に見極めることができる。ただし、通常の導通チェックとは異なり、半導体素子特有の手法があるのでそれをマスターしなければならない。

詳しい内容 → 「20120326-1.pdf」をダウンロード

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